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数据超过穿孔圆图案

特定于行业的解决方案

晶片可追溯性的自动识别

薄片鉴定
竞争激烈的全球半导体行业要求对日益复杂的过程进行更加严格的控制,以最大限度地提高工具利用率和产量;误差为零。在整个后端加工过程中跟踪晶圆的需求对盈利能力的重要性前所未有。

在眼前®1740系列晶圆读取器能够自动识别具有极高可靠性的晶圆,最大限度地减少人工干预的需要,并防止工具闲置。无论是安装在新设备上还是在现有工具上,In-Sight 1740系列读取器都能实现100%的晶圆可追溯性。

20多年来,康耐视晶片ID系统为高读取速率和可靠性设定了标准,In-Sight 1740系列也不例外。In-Sight 1740系列晶圆读取器可能很小,但它们充满了性能。在不影响可靠性的情况下实现高读速率所需的一切都在一个紧凑的、独立的系统中提供。

先进的照明系统

In-Sight 1740系列阅读器内置12种模式,软件控制,亮场和暗场照明,几乎可以成像任何ID标记。超软标记,超薄涂层蓝宝石基板- In-Sight 1740系列照明系统能够应对这些挑战,以及更多。此外,随着新的晶圆工艺和涂层的开发,In-Sight 1740系列阅读器可以扩展到由辅助光端口供电的特殊照明,以应对新的成像挑战。

明视野

亮视场照明

暗视野

暗场照明

证明读算法

即使是最有效的照明也需要先进的ID算法来成功读取难以成像的晶圆上的OCR、T7数据矩阵和条形码。In-Sight 1740系列的核心是基于安装了31,000多个晶圆ID系统的经验开发的康耐视(Cognex)读取算法。这些算法被证明是世界上最健壮、最可靠的识别标记,已经被边珠、CMP、刻痕模和其他条件退化。


T7-close-up

半T7

图像增强过滤器

晶圆加工的影响会影响ID标记的质量,以至于即使是最先进的照明系统和软件算法也无法读取ID标记。In-Sight 1740系列阅读器可以使用自动图像增强过滤器克服这些视觉退化。在最严重的情况下,过滤器能够将读失败转变为读成功,同时提高可靠性并消除人工干预的需要。

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没有OCR过滤器

Difficult_OCR_filter_cropped

与OCR过滤器

更快的阅读性能

In-Sight 1740系列的读取速度比它的前身,畅销的In-Sight 1720系列快40%。额外的功率还可以用于执行更多处理器密集型的图像分析,在不增加整体读取时间的情况下提供异常可靠的结果。

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